一种实现 STM-1 接口的多路 E1 口的测试方法和系统 技术领域 本发明涉及通道化 STM-1 中的 E1 口测试， 特别涉及一种实现 STM-1 接口的多路 E1 口的测试方法和系统。
背景技术 通道化 STM-1 接口在测试时， 一般都是通过测试通道化 STM-1 接口的 63 路 E1 口中 的某一路 E1 口实现接口误码性能测试的， 但由于物理走线、 时钟分发等不同， 通道化 STM-1 接口的 63 路 E1 口的每路 E1 口都有各自的特性， 只测试其中一路或者几路并不能代表通道 化 STM-1 接口的 63 路 E1 口所有通路的误码性能， 不能表示道化 STM-1 接口的 63 路 E1 口 所有通路都可以正常收发包， 所以在严格测试要求下应该是通道化 STM-1 接口的 63 路 E1 口都测试， 但因为每路测试一般实验室要求 24 小时不丢包， 63 路 E1 口都测试完需要大量的 时间， 这就需要大量的人力和物力， 并且目前市面上大部分 SDH 测试仪表一般都不支持这 种功能， 而个别支持这种功能的测试仪表非常昂贵。
发明内容 本发明的目的在于提供一种实现 STM-1 接口的多路 E1 口的测试方法， 用于解决 STM-1 接口上多路 E1 口同时测试的问题。
本发明的另一目的在于提供一种实现 STM-1 接口的多路 E1 口的测试系统， 用于解 决 STM-1 接口上多路 E1 口同时测试的问题。
根据本发明的一个方面， 提供了一种实现 STM-1 接口的多路 E1 口的测试方法， 包 括以下步骤 ：
A、 将中间设备线路侧的 STM-1 接口上的每个 E1 口与中间设备支路侧的 N 路 E1 口 建立一一对应关系 ；
B、 将中间设备支路侧的 N 路 E1 口依次串联， 形成 N 路 E1 口串联测试通道 ；
C、 将 N 路 E1 口串联测试通道连接同步数字体系 SDH 测试仪， 并将中间设备线路侧 的 STM-1 接口对接被测设备的 STM-1 接口 ；
D、 SDH 测试仪通过 N 路 E1 口串联测试通道对被测设备的 STM-1 接口的所有 E1 口 同时进行测试 ；
其中， N 为大于等于 2 的整数。
优选的， N 路 E1 口串联测试通道中的每个 E1 口通过中间设备线路侧的 STM-1 接 口与被测设备的 STM-1 接口的所有 E1 口建立一一对应关系。
优选的， 一一对应关系通过映射实现。
优选的， 中间设备支路侧的 N 路 E1 口串联方式包括 ： SDH 测试仪的发送端连接第 1 路 E1 口的接收端， 第 1 路 E1 口的发送端连接第 2 路 E1 口的接收端， 直至第 N-1 路 E1 口 的发送端连接第 N 路 E1 口的接收端， 第 N 路 E1 口的发送端连接 SDH 测试仪的接收端。
优选的， 若 SDH 测试仪测得 E1 口的串联测试通道出现误码， 则可通过中间设备的
网管查看被测设备的 STM-1 接口上具体出现误码的 E1 口。
根据本发明的另一方面， 提供了一种实现 STM-1 接口的多路 E1 口的测试系统， 包 括：
中间设备支路侧， 用于将 N 路 E1 口依次串联， 形成 N 路 E1 口串联测试通道 ；
中间设备线路侧， 用于将 STM-1 接口上的每个 E1 口与中间设备支路侧的 N 路 E1 口建立一一对应关系， 并将 STM-1 接口对接被测设备 STM-1 接口 ；
同步数字体系测试仪， 用于连接 N 路 E1 口串联测试通道， 通过 N 路 E1 口串联测试 通道对被测设备的 STM-1 接口的所有 E1 口同时进行测试 ；
其中， N 为大于等于 2 的整数。
优选的， N 路 E1 口串联测试通道中的每个 E1 口通过中间设备线路侧的 STM-1 接 口与被测设备的 STM-1 接口的所有 E1 口建立一一对应关系。
优选的， 一一对应关系通过映射实现。
优选的， 中间设备支路侧的 N 路 E1 口串联方式包括 ： SDH 测试仪的发送端连接第 1 路 E1 口的接收端， 第 1 路 E1 口的发送端连接第 2 路 E1 口的接收端， 直至第 N-1 路 E1 口 的发送端连接第 N 路 E1 口的接收端， 第 N 路 E1 口的发送端连接 SDH 测试仪的接收端。 优选的， 若 SDH 测试仪测得 E1 口的串联测试通道出现误码， 则可通过中间设备的 网管查看被测设备的 STM-1 接口上具体出现误码的 E1 口。
与现有技术相比较， 本发明的有益效果在于 ： 本发明利用中间设备完成多路 E1 口 的串接和 E1 口到 STM-1 接口的映射， 并通过网管完成对 STM-1 接口上多路 E1 口的每路 E1 口的监控， 实现了 STM-1 接口上的多路 E1 口的同时测试。
附图说明
图 1 是本发明提供的 STM-1 接口的多路 E1 口的测试方法的流程示意图 ；
图 2 是本发明提供的 STM-1 接口的多路 E1 口的测试系统的结构示意图 ；
图 3 是本发明实施例提供的中间设备支路侧 E1 口串联后与 SDH 测试仪的对接示 意图 ；
图 4 是本发明实施例提供的中间设备支路侧 E1 口到中间设备线路侧 STM-1 接口 中 N 路 E1 口的映射模型示意图 ；
图 5 是本发明实施例提供的 STM-1 接口的多路 E1 口的测试方法的实现流程图。 具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行详细说明， 应当理解， 以下所说明的优 选实施例仅用于说明和解释本发明， 并不用于限定本发明。
图 1 显示了本发明提供的 STM-1 接口的多路 E1 口的测试方法的流程示意， 如图 1 所示 ：
步骤 S101， 将中间设备线路侧的 STM-1 接口上的每个 E1 口与中间设备支路侧的 N 路 E1 口建立一一对应关系， N 路 E1 口串联测试通道中的每个 E1 口通过中间设备线路侧的 STM-1 接口与被测设备的 STM-1 接口的所有 E1 口建立了一一对应关系， 该一一对应关系通 过映射实现， 由于中间设备支路侧的 N 路 E1 口的串联， 使得映射构成了被测设备的 N 个 E1口的串联。其中， N 为大于等于 2 的整数。
步骤 S102， 将中间设备支路侧的 N 路 E1 口依次串联， 形成 N 路 E1 口串联测试通 道， 串联方式为 ： SDH 测试仪的发送端连接第 1 路 E1 口的接收端， 第 1 路 E1 口的发送端连 接第 2 路 E1 口的接收端， 直至第 N-1 路 E1 口的发送端连接第 N 路 E1 口的接收端， 第N路 E1 口的发送端连接 SDH 测试仪的接收端。
步骤 S103， 将 N 路 E1 口串联测试通道连接 SDH 测试仪， 并将中间设备线路侧的 STM-1 接口对接被测设备的 STM-1 接口。
步骤 S104， SDH 测试仪通过 N 路 E1 口串联测试通道对被测设备的 STM-1 接口的所 有 E1 口同时进行测试。若被测设备通道化 STM-1 接口中有任意一路 E1 口出现问题， 则 SDH 测试仪上会出现相应的告警， 但仅通过查看 SDH 测试仪无法判断是哪一路 E1 口出现问题， 可通过中间设备的网管查看被测设备的 STM-1 接口上进行告警的 E1 口， 同时可以查看告警 类型等。
图 2 显示了本发明提供的 STM-1 接口的多路 E1 口的测试系统的结构示意， 如图 2 所示， 该系统包括 SDH 测试仪、 中间设备和被测设备， 其中中间设备分为中间设备支路侧和 中间设备线路侧。
在中间设备支路侧将 N 路 E1 口依次串联， 形成 N 路 E1 口串联测试通道， 串联方式 为： SDH 测试仪的发送端连接第 1 路 E1 口的接收端， 第 1 路 E1 口的发送端连接第 2 路 E1 口 的接收端， 直至第 N-1 路 E1 口的发送端连接第 N 路 E1 口的接收端， 第 N 路 E1 口的发送端 连接 SDH 测试仪的接收端。
中间设备线路侧将 STM-1 接口上的每个 E1 口与中间设备支路侧的 N 路 E1 口建立 一一对应关系， 并将 STM-1 接口对接被测设备 STM-1 接口。N 路 E1 口串联测试通道中的每 个 E1 口通过中间设备线路侧的 STM-1 接口与被测设备的 STM-1 接口的所有 E1 口建立了 一一对应关系， 该一一对应关系通过映射实现， 由于中间设备支路侧的 N 路 E1 口的串联， 使 得映射构成了被测设备的 N 个 E1 口的串联。
SDH 测试仪连接 N 路 E1 口串联测试通道， 通过 N 路 E1 口串联测试通道对被测设 备的 STM-1 接口的所有 E1 口同时进行测试。SDH 测试仪测得 E1 口的串联测试通道出现误 码， 则可通过中间设备的网管查看被测设备的 STM-1 接口上具体出现无码的 E1 口。
图 3 显示了本发明实施例提供的中间设备支路侧 E1 口串联后与 SDH 测试仪的对 接示意， 如图 3 所示， L1、 L2 和 L3 分别具有 21 个 E1 口， SDH 测试仪的发送端连接第 1 路 E1 口的接收端， 第 1 路 E1 口的发送端连接第 2 路 E1 口的接收端， 直至第 N-1 路 E1 口的发送 端连接第 N 路 E1 口的接收端， 第 N 路 E1 口的发送端连接 SDH 测试仪的接收端。
中间设备支路侧接收线路输入的电信号， 经过背板送往业务板处理， 发送时， 接收 经背板送入的业务板信号， 输出至中间设备线路侧。
中间设备线路侧完成接口转换， 完成接收方向数据的解复用以及发送方向数据的 复用功能。完成净荷数据与开销的分离和插入 ； 实现信号的段开销的提前和插入 ； 完成指 针处理、 告警处理、 误码统计和 ECC 转发处理 ； 完成系统高阶交叉和低阶交叉已经通道保护 等功能。
图 4 显示了本发明实施例提供的中间设备支路侧 E1 口到中间设备线路侧 STM-1 接口中 N 路 E1 口的映射模型示意， 如图 4 所示， 横坐标表示中间设备支路侧的 E1 口， 纵坐标表示中间设备线路侧 STM-1 接口上的 E1 口。中间设备线路侧的 STM-1 接口与被测设备 的通道化 STM-1 接口对接， 中间设备把支路侧串接的多路 E1 口映射到中间设备线路侧的 STM-1 接口， 从而构成了被测设备的 STM-1 接口上 N 个 E1 口的串联连接。
图 5 显示了本发明实施例提供的 STM-1 接口的多路 E1 口的测试方法的实现流程， 如图 5 所示 ：
步骤 S501， SDH 测试仪的发送端连接中间设备的第 1 路 E1 口的接收端。
步骤 S502， 中间设备支路侧的 N 个 E1 口串联连接， 连接方式为 ： 第 1 路 E1 口的发 送端连接第 2 路 E1 口的接收端， 直至第 N-1 路 E1 口的发送端连接第 N 路 E1 口的接收端， 然后， 第 N 路 E1 口的发送端连接 SDH 测试仪的接收端。
步骤 S503， 中间设备线路侧的 STM-1 接口的 N 个 E1 口与中间设备支路侧的 N 个 E1 口进行一一映射。
步骤 S504， 若经过长时间的测试， SDH 测试仪出现告警， 则中间设备的网管查看是 哪一路 E1 口出现问题， 并查看告警类型。
此外， 若经过长时间的测试， SDH 测试仪未出现告警， 则测试结束。
综上所述， 本发明具有以下技术效果 ： 本发明将 E1 口映射到相应的容器中和从相 应的映射中取出 E1 口完成， 实现了 STM-1 接口的多路 E1 口的同时测试， 简化了测试流程， 节省了大量的人力和物力。 尽管上文对本发明进行了详细说明， 但是本发明不限于此， 本领域技术人员可以 根据本发明的原理进行各种修改。 因此， 凡按照本发明原理所作的修改， 都应当理解为落入 本发明的保护范围。