显示装置和用于生产该显示装置的方法与设备.pdf

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摘要
申请专利号:

CN200410095967.9

申请日:

2004.10.09

公开号:

CN1629910A

公开日:

2005.06.22

当前法律状态:

终止

有效性:

无权

法律详情:

未缴年费专利权终止IPC(主分类):G09F 9/313申请日:20041009授权公告日:20080326终止日期:20141009|||授权|||实质审查的生效|||公开

IPC分类号:

G09F9/313; H01J17/49; H01J9/00

主分类号:

G09F9/313; H01J17/49; H01J9/00

申请人:

三星SDI株式会社;

发明人:

金明坤; 姜太京

地址:

韩国京畿道

优先权:

2003.10.09 KR 70209/2003

专利代理机构:

北京市柳沈律师事务所

代理人:

李瑞海;王景刚

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内容摘要

本发明提供一种显示装置,在等离子显示板与底盘座的连接中具有高精确度和准确度。还提供一种用于生产所述显示装置的方法和设备。该显示装置包括具有上板和下板的显示板和用于支撑该显示板的底盘座。等离子显示板中上板和下板中至少一个标记有对准标记,并在底盘座上对应于该对准标记的位置形成的穿透孔。因此,根据通过该穿透孔暴露的对准标记可以精确地对准该底盘座和该等离子显示板。

权利要求书

1: 一种显示装置,包括: 包括上板和下板的显示板,所述上板或下板中至少一个标记有至少一 个对准标记;和 用于支撑该显示板的底盘座,所述底盘座包括至少一个穿透孔, 其中该底盘座通过该至少一个穿透孔暴露至少部分的所述至少一个 对准标记。
2: 如权利要求1所述的显示装置,其中存在有至少两个对准标记和 至少两个穿透孔。
3: 如权利要求1所述的显示装置,其中该至少一个穿透孔比该至少 一个对准标记大。
4: 如权利要求3所述的显示装置,其中该底盘座通过该至少一个穿 透孔完全暴露所述至少一个对准标记。
5: 如权利要求1所述的显示装置,其中该至少一个穿透孔和该至少 一个对准标记是圆形的。
6: 如权利要求1所述的显示装置,其中: 该上板标记有至少一个上对准标记; 该下板标记有至少一个下对准标记;和 粘接该上板和下板使得上对准标记和下对准标记相一致。
7: 如权利要求2、3、4或5所述的显示装置,其中: 该上板标记有至少一个上对准标记; 该下板标记有至少一个下对准标记;和 粘接该上板和下板使得上对准标记和下对准标记相一致。
8: 如权利要求1所述的显示装置,其中该显示板是等离子显示板。
9: 一种用于生产显示装置的方法,包括: 在上板和下板的至少一块板上标记有至少一个对准标记; 通过粘接上板和下板来形成显示板; 在底盘座上形成至少一个穿透孔; 对准该显示装置和该底盘座使得至少部分的所述至少一个对准标记 通过该至少一个穿透孔被可视暴露;和 在它们的对准位置结合该显示装置和该底盘座。
10: 如权利要求9所述的方法,其中: 形成多个对准标记;和 形成多个穿透孔。
11: 如权利要求9所述的方法,其中: 所形成的至少一个穿透孔比该至少一个对准标记大;和 对准该显示板和该底盘座使得该至少一个对准标记通过该至少一个 穿透孔被完全暴露。
12: 如权利要求9所述的方法,其中该至少一个穿透孔和该至少一个 对准标记是圆形的。
13: 如权利要求9所述的方法,其中: 在该上板上标记至少一个上对准标记; 在该下板上标记至少一个下对准标记;和 在使用该上下对准标记对准该上板和下板后,PDP的形成粘接该上 下板。
14: 如权利要求10、11或12所述的方法,其中: 在该上板上标记至少一个上对准标记; 在该下板上标记至少一个下对准标记;和 在使用该上下对准标记对准该上板和下板后,显示板的形成粘接该上 下板。
15: 如权利要求9所述的方法,其中该显示板是等离子显示板。
16: 一种用于生产显示装置的设备,该显示装置具有显示板和用于支 撑该显示板的底盘座,该显示板标记有至少一个对准标记,该底盘座包 括用于通过其使至少部分的所述至少一个对准标记暴露的至少一个穿透 孔,该设备包括: 用于保持显示板的显示板保持架; 用于保持该底盘座的底盘座保持架; 光感应器,其用于通过该底盘座的至少一个穿透孔来检测该至少一个 对准标记; 电机,用于移动底盘座保持架和显示板保持架中的至少一个保持架; 和 电控元件,用于接收来自光感应器的检测信号并根据该信号控制所述 电机, 其中该电控元件执行命令,用于: 移动该至少一个保持架到预定位置, 确定通过该至少一个穿透孔是否检测到至少一个对准标记,和 调节至少一个保持架的位置,使得在检测到至少一个对准标记时,该 至少一个对准标记相对于该至少一个穿透孔被定位在预定的位置上。
17: 如权利要求16所述的设备,其中该至少一个保持架的位置调整 包括: 确定是否通过至少一个穿透孔完全暴露该至少一个对准标记;和 将该至少一个保持架定位在通过该至少一个穿透孔完全暴露该至少 一个对准标记的位置上。

说明书


显示装置和用于生产该显示装置的方法与设备

    【技术领域】

    一般来说,本发明涉及一种显示装置。更具体地讲,本发明涉及一种在等离子板与底盘座的连接中具有增强精确度的等离子显示装置和一种用于生产这种等离子显示装置的方法和设备。

    背景技术

    等离子显示装置是一种普通的显示装置。如现有技术中众所周知的那样,等离子显示装置通过使用等离子放电来显示所需的图象。这样的等离子显示装置通常包括一个通过外部电源激励的等离子放电来显示所需图象的等离子显示板(PDP),一个用于在其前侧牢固保持该PDP的底盘座和一个或多个设置在该底盘座后侧用于驱动该PDP的电路板。

    所述PDP必须相对于底盘座精确定位以便与底盘座连接。当没有精确控制该PDP与底盘座的连接位置时,等离子显示装置中的图象显示区域会偏离所设计的位置,这样会损坏该等离子显示装置的产品质量。

    根据现有技术,对该PDP到底盘座的连接位置的控制取决于该PDP和该底盘座所处的外部情况。也就是说,首先对准该PDP和该底盘座以使得该PDP的外部情况与该底盘座的外部情况相对应,并随后这两个部件相互连接起来。

    然而,该PDP与该底盘座的这种对准在控制连接位置中仅提供了有限范围的精度,而用于精确测定该PDP是否已经连接到该底盘座上准确位置地工具和/或标准还没有很好地建立起来。

    因此,更精确地控制PDP和底盘座的对准以及相应的更准确地连接该PDP和该底盘座,就可以使等离子显示装置的产品质量提高。

    此外,在完全生产PDP和底盘座之前决定如何准确地连接该PDP和该底盘座可有助于减少最终等离子显示装置次品的百分比。

    【发明内容】

    提供一种显示装置,该显示装置在等离子显示板与底盘座的连接中具有提高的精确度和准确度。还提供一种用于生产这种显示装置的方法和设备。

    根据本发明一个实施例的示意性等离子显示装置,包括具有上板和下板的PDP,所述上板和下板中的至少一个板被标有至少一个对准标记;和一个用于支撑该PDP的底盘座,该底盘座包括至少一个穿透孔,该底盘座通过至少一个穿透孔来暴露至少部分的所述至少一个对准标记。

    在另外一个实施例中,至少一个对准标记和至少一个穿透孔分别被设置为多个。

    在另一个实施例中,该至少一个穿透孔和该至少一个对准标记是圆形的。

    在另一个实施例中,该至少一个穿透孔比该至少一个对准标记大。在这种情况下,在另一实施例中,该底盘座通过该至少一个穿透孔完全暴露至少一个对准标记。

    在另一实施例中,分别标记在上板和下板上用于对准的对准标记还被用于PDP和底盘座的对准。也就是说,上板标记有至少一个上对准标记,下板标记有至少一个下对准标记,并且粘接上板和下板以使上下对准标记对齐。

    一种用于生产根据本发明一个实施例的等离子显示装置的示意性方法,包括在上板和下板中至少一个板上标记至少一个对准标记,通过粘接该上板和下板形成一个PDP,在底盘座上形成至少一个穿透孔,对准该PDP和该底盘座以使得该至少一个对准标记的至少一部分通过该至少一个穿透孔被可视的暴露出来,以及在它们的对准位置上合并该PDP和该底盘座。

    在另外一个实施例中,在标记过程中形成多个至少一个对准标记,并在其形成过程中形成多个至少一个穿透孔。

    在另一个实施例中,至少一个穿透孔的构成形成了至少一个比至少一个对准标记大的穿透孔,并且对准PDP和底盘座步骤对准所述PDP和底盘座,使得该至少一个对准标记通过该至少一个穿透孔被完全地暴露出来。

    在另一个实施例中,该至少一个穿透孔和该至少一个对准标记是圆形。

    在另一个实施例中,至少一个对准标记的标记分别在上板上标记至少一个上对准标记以及在下板上标记至少一个下对准标记,并且PDP的形成在运用上板和下板对准标记使它们对准后粘接所述上板和下板。

    一种用于制造根据本发明实施例的等离子显示装置的示意性设备,包括用于保持PDP的PDP保持架,用于保持底盘座的底盘座保持架,用于通过底盘座的至少一个穿透孔检测至少一个对准标记的光感应器,用于移动该底盘座保持架和该PDP保持架中至少一个保持架的电机,以及用于接收来自所述光感应器检测信号和用于根据上述信号控制电机的电控元件。该电控元件执行用于将至少一个保持架移到预定位置,确定是否通过至少一个穿透孔检测到至少一个对准标记,并当检测到至少一个对准标记时,调节至少一个保持架的位置,以使得该至少一个对准标记相对于该至少一个穿透孔定位于一预定位置。

    在另外一个实施例中,该至少一个保持架的位置调节包括确定该至少一个对准标记是否通过该至少一个穿透孔被完全地暴露,以及将该至少一个保持架定位在通过该至少一个穿透孔完全暴露该至少一个对准标记的位置上。

    【附图说明】

    图1是根据本发明一个实施例的等离子显示装置的分解透视图;

    图2是根据本发明一个实施例的等离子显示装置沿图1中A方向所观察到的视图,并且示出PDP和底盘座在等离子显示装置中是如何对准的;

    图3是示出用于生产根据本发明一实施例的等离子显示装置的方法的流程图;

    图4示出用于生产根据本发明一实施例的等离子显示装置的设备;

    图5是一个流程图,示出由在用于生产根据本发明一实施例的等离子显示装置的设备中所使用的电控元件所执行的步骤;

    图6示出等离子显示装置中PDP和底盘座未对准的示例。

    【具体实施方式】

    如图1所示,根据本发明一个实施例的等离子显示装置包括等离子显示板(PDP)100和用于支撑该PDP100的底盘座150。

    该PDP100可包括上板110和下板120。在任一或全部上下板110和120上标记至少一个对准标记。根据本发明的一个实施例,该上板110和该下板120分别标记有对准标记111-114和121-124。

    不需空间地形成对准标记111-114和121-124,但是它们可以从底盘座150和围绕板110和120的材料中光学地区分出来。

    根据本发明的一个实施例,对准标记111-114和121-124形成在上板110和下板120的每个角落上。然而,本发明的范围不应该限制为将该对准标记设置在这些位置上。

    上板110的上对准标记111-114和下板120的下对准标记121-124形成在相应的位置。因此,粘接该上板110和下板120,从而以相应成对的对准标记111和121、112和122、113和123以及114和124组合的方式形成PDP100。

    穿透孔151-154形成在底盘座150连接有PDP100的侧面160上。本领域的普通技术人员应当了解,在底盘座150上形成所述穿透孔151-154不需要额外的步骤来形成底盘座150。

    在一个示意性实施例中,穿透孔151-154的数量可与上板110和下板120的对准标记111-114和121-124一样多,并且该穿透孔151-154的位置可与对准标记111-114和121-124的位置相对应。

    因此,当PDP100被连接到底盘座150上时,可以通过每个穿透孔151-154看到每对相对应的对准标记111和121,112和122,113和123,以及114和124。

    图1示出每个上板110和下板120在板的角落处被标记有四个对准标记,并且在对应的位置上四个穿透孔形成在底盘座150上。然而,如上面所述,本发明不应限制为将这些对准标记和穿透孔定位在这些特定的位置上。

    例如,当其中上板110和下板120中只有一个板标记有唯一的对准标记,且在底盘座上对应该对准标记的位置上仅形成有一个穿透孔时,可将PDP100与底盘座150对准。

    然而,使用多个对准标记111-114和121-124以及穿透孔151-154能够实现底盘座150和PDP100更准确的旋转对准。

    图2是根据本发明一个实施例的等离子显示装置沿图1中A方向所观察到的视图,并示出在等离子显示装置中PDP100和底盘座150是如何对准的。在图2中,为了更好的理解该实施例,在某种程度上夸张地示出穿透孔151-154和对准标记111-114和121-124。

    如图2所示,底盘座150的穿透孔151-154和PDP100的对准标记111-114和121-124可以是圆形的。因为它们的圆形形状,可以很容易地检测到在任何方向上的对不准。

    此外,根据容许误差限定,穿透孔151-154可大于对准标记111-114和121-124。例如,如果对准标记的直径是3mm且容许误差限定被设置为1mm,则穿透孔的直径可以是5mm。

    根据本发明的一个实施例,可以设定PDP100和底盘座150的对准标准,从而使穿透孔151-154的中心与对准标记111-114和121-124的中心相一致。因此,基于该对准标记111-114和121-124通过穿透孔151-154是否被完全地暴露,可以容易地确定是否该对准标准在容许误差限定内是满足的。

    如上所述,穿透孔151-154可以比对准标记111-114和121-124大,并且对准标记111-114和121-124可通过穿透孔151-154被完全地暴露出来。然而,本发明的范围应被理解为包括使用穿透孔和对准标记的PDP和底盘座的任何对准。

    例如,当穿透孔151-154和对准标记111-114和121-124的直径比容许误差限定小时,通过穿透孔151-154的对准标记111-114和121-124的暴露部分仍能确保底盘座150和PDP100之间的相对位置误差在容许误差限定内。

    随后将参照附图3详细地描述一种用于生产根据本发明一个实施例的等离子显示装置的方法。

    在步骤S310中,对准标记111-114和121-124分别被标记在上板110和下板120的对应位置上。在步骤S310中,如上所述,上板110和下板120中的每一个板可标记有多个(如4个)对准标记111-114和121-124。

    在步骤S320中,具有对准标记111-114和121-124的上板110和下板120可以被对准,从而使对准标记111-114和121-124相一致。随后,粘接上板110和下板120以形成PDP100。

    在步骤S330中,穿透孔151-154可以形成在底盘座150上与对准标记111-114和121-124相对应的位置上。该穿透孔151-154在底盘座150的生产过程中(如在压制过程中)形成,而不需要形成这些孔的附加过程。如上述,该穿透孔151-154可以比对准标记111-114和121-124大。

    当如此制备底盘座150和PDP100时,该PDP100和底盘座150在步骤S340中被对准,以便通过穿透孔151-154可看见至少部分的对准标记111-114和121-124。更详细地,在步骤S340中,对准PDP100和底盘座150使得该对准标记111-114和121-124通过穿透孔151-154被完全暴露出来。

    在步骤S350中,PDP100和底盘座150在它们的对准位置处被合并。

    下面将参照附图4详细地描述一个用于生产等离子显示装置的设备的实施例。如附图4所示,一种用于生产根据本发明一个实施例的等离子显示装置的设备可包括用于保持PDP100的PDP保持架410,用于保持底盘座150的底盘座保持架420,和通过底盘座150的穿透孔151-154检测对准标记111-114和121-124的光感应器440。

    该光感应器440可以是任何能够发射预定波长光束并检测其反射光的感应器。

    此外,用于生产根据本发明一实施例的等离子显示装置的设备还包括用于移动底盘座保持架420和PDP保持架410的至少一个保持架的电机430。例如,附图4示出移动底盘座保持架420的电机430。

    通过电机用来移动底盘座保持架420位置的电机430的细节对于本领域的普通技术人员是显而易见的。该PDP保持架410可以是诸如等离子显示装置生产线中的普通传送带。

    如附图4所示,对本领域的普通技术人员来说显而易见的是,PDP100和底盘座150可以通过粘接带491结合起来。另外,用于将热量从PDP100传送到底盘座150上的热传导介质492可被插入到PDP和底盘座之间。

    此外,用于生产根据本发明一实施例的等离子显示装置的设备还包括用于接收来自光感应器440的检测信号并根据该信号控制电机430的电控元件(ECU)450。

    该ECU450包括一个或多个由预定程序激活的处理器,所述预定程序被编程以执行根据本发明一实施例方法的每个步骤。

    图5是ECU450所执行步骤的流程图,ECU450应用在用来生产根据本发明一个实施例的等离子显示装置的设备中。

    如图5所示,在步骤S510中,ECU450将底盘座保持架420移动到一个预定的位置。该预定位置可被预设到这样的位置,即在所述位置上光感应器440能够通过穿透孔151-154检测到对准标记111-114和121-124。

    随后在步骤S520中,ECU450根据来自光感应器440的信号确定是否通过穿透孔151-154检测到对准标记111-114和121-124。

    如果在步骤S520中,光感应器440没有检测到对准标记111-114和121-124,那么会循环执行步骤S510直至检测到该对准标记。

    当检测到对准标记111-114和121-124时,在步骤S530中,ECU450调整底盘座固定架420的位置以使得该对准标记111-114和121-124相对于穿透孔151-154被定位在预定的位置上。

    在步骤S530中,在步骤S535,ECU450确定该对准标记111-114和121-124是否通过穿透孔151-154被完全暴露。当该对准标记111-114和121-124通过该穿透孔151-154没有被完全暴露时,在步骤S540,所述ECU450将底盘座固定架420定位在对准标记111-114和121-124通过穿透孔151-154被完全暴露的位置上。

    由于该穿透孔151-154比该对准标记111-114和121-124大,因此通过穿透孔151-154,对准标记111-114和121-124的局部暴露意味着该对准标记111-114和121-124相对于该穿透孔151-154有所偏移。因此,在步骤S540,通过向对准标记111-114和对准标记121-124偏置的方向移动底盘座150,可调节底盘座150的位置,使得对准标记111-114和121-124通过穿透孔151-154被完全地暴露。

    图6示出在等离子显示装置中PDP和底盘座未对准的示例。更具体地,图6示出PDP600超出允许范围在反时针方向上从底盘座650旋转偏移的情况。

    根据本发明一个实施例,通过使用PDP的对准标记和底盘座的穿透孔,合并底盘座和PDP的位置可以被精确地控制。因此,可以防止具有如图6所示的未对准的等离子显示装置的生产。

    即使生产了这种错位对准的等离子显示装置或在该等离子显示装置生产后发生该等离子显示装置的该底盘座650和PDP板600之间的未对准,这种未对准也可以轻易地通过穿透孔651、652、653和654目测观察对准标记601,602,603和604来确定。

    由于在生产该底盘座时,底盘座的穿透孔可以不需要额外的步骤来形成,因此可以保持等离子显示装置的高效生产。

    使用多个对准标记和穿透孔,能够在不考虑线性对准的情况下,实现底盘座和PDP的旋转对准。

    通过形成比对准标记大的穿透孔,对错位对准的确定被简化。此外,错位对准的确定可以通过事先调整错位对准的标准,例如是否对准标记通过穿透孔已被完全暴露的标准被进一步简化。

    通过形成圆形的穿透孔和对准标记,在任何方向上的对准可变得精确。

    由于上板和下板的对准标记还可以用于对准PDP和底盘座,本发明所需的额外过程和/或要求被减到最小。

    根据用于生产本发明一个实施例的等离子显示装置的设备,具有PDP和底盘座精确对准的等离子显示装置的高效生产可通过根据来自用于通过穿透孔检测对准标记的感应器的信号调整PDP和底盘座的相对位置成为可能。

    虽然已经在结合当前示意性实施例中的内容详细地描述了本发明,但应当理解,本发明并不限制于所公开的实施例,而且相反的是,其意在包括包含在附加权利要求精神和范围内的各种修改和等同设置。

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本发明提供一种显示装置,在等离子显示板与底盘座的连接中具有高精确度和准确度。还提供一种用于生产所述显示装置的方法和设备。该显示装置包括具有上板和下板的显示板和用于支撑该显示板的底盘座。等离子显示板中上板和下板中至少一个标记有对准标记,并在底盘座上对应于该对准标记的位置形成的穿透孔。因此,根据通过该穿透孔暴露的对准标记可以精确地对准该底盘座和该等离子显示板。 。

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