显存测试方法和系统.pdf

1、10申请公布号CN102053899A43申请公布日20110511CN102053899ACN102053899A21申请号200910308972622申请日20091028G06F11/267200601G09G5/0020060171申请人鸿富锦精密工业（深圳）有限公司地址518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号申请人鸿海精密工业股份有限公司72发明人刘清华54发明名称显存测试方法和系统57摘要一种显存测试方法，用以测试一待测显卡内的显存，包括以下步骤通过一输入模块驱动一测试程序，该测试程序中包含有一原始图片文件；通过一数据读写模块将所述测试程序中的原始图片文件数

2、据写入所述显存；通过所述数据读写模块在写入数据的过程中同时读取写入显存的文件数据，并将读取到的文件数据存为一新的图片文件；通过一数据处理模块采用哈希算法分别计算出所述原始图片文件和新的图片文件的哈希值；通过一数据比对模块比对所述原始图片文件和新的图片文件的哈希值是否相同后输出一比较结果；及通过一输出模块接收所述比较结果并根据比较结果显示显存是否正常。本发明还揭示了一种显存测试系统。51INTCL19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书1页说明书3页附图2页CN102053906A1/1页21一种显存测试方法，用以测试一待测显卡内的显存，包括以下步骤通过一输入模块驱动一测试程序

3、，该测试程序中包含有一原始图片文件；通过一数据读写模块将所述测试程序中的原始图片文件数据写入所述显存；通过所述数据读写模块在写入数据的过程中同时读取写入显存的文件数据，并将读取到的文件数据存为一新的图片文件；通过一数据处理模块采用哈希算法分别计算出所述原始图片文件和新的图片文件的哈希值；通过一数据比对模块比对所述原始图片文件和新的图片文件的哈希值是否相同后输出一比较结果；及通过一输出模块接收所述比较结果并根据比较结果显示显存是否正常。2如权利要求1所述的显存测试方法，还包括所述输入模块驱动测试程序之前初始化待测试显卡内的显存的步骤。3如权利要求1所述的显存测试方法，其特征在于若所述数据比对模块

4、通过比对得到原始图片文件和新的图片文件的哈希值相同，则所述输出模块显示显存为正常，否则显示显存为不正常。4如权利要求1所述的显存测试方法，其特征在于所述哈希算法采用MD5信息摘要算法。5一种显存测试系统，用以测试一待测显卡内的显存，包括一输入模块、一数据读写模块、一数据处理模块、一数据比对模块和一输出模块，所述输入模块驱动一测试程序，该测试程序中包含有一原始图片文件，所述数据读写模块将所述测试程序中的原始图片文件数据写入所述显存，所述数据读写模块在写入数据的过程中同时读取写入显存的文件数据，并将读取到的文件数据存为一新的图片文件，所述数据处理模块采用哈希算法分别计算出所述原始图片文件和新的图片

5、文件的哈希值，所述数据比对模块比对所述原始图片文件和新的图片文件的哈希值是否相同后输出一比较结果，所述输出模块接收所述比较结果并根据比较结果显示显存是否正常。6如权利要求5所述的显存测试系统，其特征在于所述输入模块在驱动测试程序之前初始化待测试显卡内的显存。7如权利要求5所述的显存测试系统，其特征在于所述哈希算法采用MD5信息摘要算法。权利要求书CN102053899ACN102053906A1/3页3显存测试方法和系统技术领域0001本发明涉及一种测试方法和系统，尤指一种电脑显存测试方法和系统。背景技术0002显卡作为个人电脑最基本组成部分之一，其主要用途是将计算机系统所需要的显示信息进行转

6、换，并向显示器提供行扫描信号，控制显示器的正确显示。如图1所示为显卡的工作原理图，首先，由中央处理器100发送的数据通过图形加速接口或PCIE总线200进入显卡300的图形芯片301进行处理。当图形芯片301处理完后，相关的数字图像数据被发送到显存302里暂时储存。然后数字图像数据被送入随机存储数字模拟转换器400转换成计算机显示需要的模拟数据。最后随机存储数字模拟转换器400再将转换完的模拟数据送到显示器500形成图像显示。0003显卡的主要晶片为显示晶片，是显卡的主要处理单元。显卡上也有和电脑存储器相似的存储器，称为“显示存储器”，简称显存。显卡作为连接显示器和个人电脑主板的重要元件，显存

7、的正常工作与否直接关系到显卡的稳定性。显存的大小与速度直接影响到视频系统的图形分辨率，色彩精度和显示速度。因此，检测显存的可靠度是显卡测试中的一个重要环节。传统的显存测试通常是通过读写数据的方法先往显存中写入一段数据，然后将数据读出后比较写入和读取的数据是否相同来判断显存是否正常工作，但是数据通常占有较大的存储空间，显存写入和读取数据的速度较慢，不适应工厂大量生产时的测试需求。发明内容0004鉴于以上内容，有必要提供一种高效的显存测试方法和系统。0005一种显存测试方法，用以测试一待测显卡内的显存，包括以下步骤0006通过一输入模块驱动一测试程序，该测试程序中包含有一原始图片文件；0007通过

8、一数据读写模块将所述测试程序中的原始图片文件数据写入所述显存；0008通过所述数据读写模块在写入数据的过程中同时读取写入显存的文件数据，并将读取到的文件数据存为一新的图片文件；0009通过一数据处理模块采用哈希算法分别计算出所述原始图片文件和新的图片文件的哈希值；0010通过一数据比对模块比对所述原始图片文件和新的图片文件的哈希值是否相同后输出一比较结果；及0011通过一输出模块接收所述比较结果并根据比较结果显示显存是否正常。0012一种显存测试系统，用以测试一待测显卡内的显存，包括一输入模块、一数据读写模块、一数据处理模块、一数据比对模块和一输出模块，所述输入模块驱动一测试程序，该测试程序中

9、包含有一原始图片文件，所述数据读写模块将所述测试程序中的原始图片文件数据写入所述显存，所述数据读写模块在写入数据的过程中同时读取写入显存的文件数据，并将读取到的文件数据存为一新的图片文件，所述数据处理模块采用哈希算法分别计说明书CN102053899ACN102053906A2/3页4算出所述原始图片文件和新的图片文件的哈希值，所述数据比对模块比对所述原始图片文件和新的图片文件的哈希值是否相同后输出一比较结果，所述输出模块接收所述比较结果并根据比较结果显示显存是否正常。0013相对现有技术，本发明显存测试方法通过所述数据读写模块向显存中写入图片文件的数据并同时读取写入显存的文件数据，并通过所述

10、数据处理模块计算出所述原始图片文件和新的图片文件的哈希值后由数据比对模块进行比对，反应快速，测试效率高。附图说明0014图1为显卡的工作原理示意图。0015图2为本发明显存测试系统的较佳实施方式的框图。0016图3为本发明显存测试方法的较佳实施方式的流程图。具体实施方式0017请参阅图2，为本发明显存测试系统的较佳实施方式的框图。该系统包括一输入模块10、一数据读写模块20、一数据处理模块30、一数据比对模块40和一输出模块50。所述输入模块10可初始化待测试显卡内的显存60并驱动一测试程序80，该测试程序80中包含有一原始图片文件，例如BMP格式的图形文件。所述数据读写模块20可将测试程序8

11、0中的原始图片文件数据写入所述显存60，所述数据读写模块20在写入数据的过程中同时读取写入显存60的文件数据，并将读取到的文件数据存为一新的图片文件。所述数据处理模块30可采用哈希算法分别计算出原始图片文件和新的图片文件的哈希值。所述数据比对模块40可比对原始图片文件和新的图片文件的哈希值是否相同后输出一比较结果。所述输出模块50可接收比较结果并根据比较结果显示显存60是否正常。0018所述哈希算法采用MD5信息摘要算法。MD5算法以16个32位子分组即512位分组来提供数据杂凑，经过程序流程，生成四个32位数据，最后联合起来成为一个128位散列。基本方式为，求余、取余、调整长度、与链接变量进

12、行循环运算，最后得出结果。哈希算法是将任意长度的二进制值映射为固定长度的较小二进制值，这个较小的二进制值称为哈希值。哈希值是一段数据唯一且极其紧凑的数值表示形式，如果散列一段数据并更改该段数据的一个字母，采用哈希算法都将产生不同的值。要找到散列为同一个值的两个不同的输入，在计算上是不可能的，所以数据的哈希值可以检验数据的完整性。0019请参阅图3，其为本发明显存测试方法的较佳实施方式的流程图。所述显存测试系统中的模组按照以下流程执行0020S1通过所述输入模块10初始化待测试显卡内的显存60并驱动测试程序80；0021S2通过所述数据读写模块20将所述测试程序80中的原始图片文件数据写入所述显

13、存60；0022S3通过所述数据读写模块20在写入数据的过程中同时读取写入显存60的文件数据，并将读取到的文件数据存为一新的图片文件；0023S4通过所述数据处理模块30采用哈希算法分别计算出所述原始图片文件和新的图片文件的哈希值；0024S5通过所述数据比对模块40比对所述原始图片文件和新的图片文件的哈希值说明书CN102053899ACN102053906A3/3页5是否相同后输出一比较结果；0025S6通过所述输出模块50接收所述比较结果并根据比较结果显示显存60是否正常。0026若所述数据比对模块40比通过比对得到原始图片文件和新的图片文件的哈希值相同，则所述输出模块显示显存60为正常，否则显示显存60为不正常。0027本发明显存测试方法通过所述数据读写模块20向显存60中写入图片文件的数据并同时读取写入显存60的文件数据，并通过所述数据处理模块30计算出所述原始图片文件和新的图片文件的哈希值后由数据比对模块40进行比对，反应快速，测试效率高。说明书CN102053899ACN102053906A1/2页6图1说明书附图CN102053899ACN102053906A2/2页7图2图3说明书附图CN102053899A